专利名称：检测芯片及检测系统专利类型：实用新型专利
发明人：赵静,张玙璠,袁春根,安光明申请号：CN202020715093.7申请日：20200430公开号：CN211905402U公开日：20201110
摘要：一种检测芯片和检测系统，该检测芯片包括加样开口和至少一个检测分支结构。至少一个检测分支结构中的每个包括检测部；检测部包括检测凹槽和反应试剂，检测凹槽与加样开口连通，反应试剂容纳在检测凹槽中，检测部被配置为允许对位于检测凹槽中的反应试剂进行光学检测。该检测芯片可有助于实现自动化检测，并可有助于实现便于携带的检测装置。
申请人：京东方科技集团股份有限公司
地址：100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
国籍：CN
代理机构：北京市柳沈律师事务所
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