专利名称：用于CMOS图像传感器电性能的测试系统专利类型：发明专利发明人：黄林,朱若虹
申请号：CN200710130071.3申请日：20070730公开号：CN101360254A公开日：20090204
摘要：本发明提供了一种用于CMOS图像传感器电性能的测试系统，其中所述系统包括信号源、控制单元、检测单元和数据处理器，信号源用于向待测传感器提供输入信号并且提供基准信号；检测单元用于检测待测传感器的输出信号并且向控制单元提供检测到的待测传感器的输出信号；控制单元用于调节信号源的输出信号、启动和终止检测单元对待测传感器的测试以及将检测单元提供的检测到的待测传感器的输出信号提供给数据处理器；以及数据处理器用于根据控制单元提供的检测到的待测传感器的输出信号判断待测传感器的电性能。采用本发明的系统能够在很大程度上节约测试成本。
申请人：比亚迪股份有限公司
地址：518119 广东省深圳市龙岗区葵涌镇延安路比亚迪工业园
国籍：CN
代理机构：北京润平知识产权代理有限公司
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