专利名称：透明材料折射率干涉测量仪专利类型：实用新型专利发明人：黄国松,李顺光申请号：CN02283662.4申请日：20021227公开号：CN2599568Y公开日：20040114
摘要：一种透明材料折射率干涉测量仪，主要是将待测材料制成两块对称棱镜组成的组合平板样品，并将其置于马赫－陈德尔干涉仪一臂上，产生两路干涉，一路是马赫－陈德尔干涉，另一路是组合平板样品的两通光面形成的等厚干涉，组合平板样品中的一块固定，另一块沿固定块平移的同时，精密测定移动过程中两路干涉条纹的变化量m和m；利用n=1/[1－2(m/m)]计算待测材料的折射率。本实用新型的优点是：折射率测量精度达10～10；在测试过程中避免使用测角仪；在样品移动过程中，光束方向不产生变化，不会破坏干涉；折射率只与条纹变化量有关；影响测量精度的因素减少；所测折射率上限达2.7，可测量从紫外到红外的材料折射率。
申请人：中国科学院上海光学精密机械研究所
地址：201800 上海市800-211邮政信箱
国籍：CN
代理机构：上海新天专利代理有限公司
代理人：张泽纯
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