专利名称：大规模集成电路的测试方法及系统专利类型：发明专利发明人：杨兵
申请号：CN202010747756.8申请日：20200730公开号：CN111624475A公开日：20200904
摘要：本发明公开了一种大规模集成电路的测试方法及系统。该方法包括：检验人员根据需求规格书中的时钟和复位需求完成验证规格书，验证规格书为验证人员根据需求规格书中的时钟和复位需求完成的，根据验证规格书生成通用验证环境；检验人员根据待测电路和电路规格书填写绑定输入文件模板，得到绑定输入文件；根据绑定输入文件生成绑定组件，绑定组件将待测电路的电路信息和基于电路规格书得到的验证激励配置到通用验证环境的检验器中，得到完整验证环境；检验器根据验证激励和完整验证环境对待测电路进行测试。能够更早的启动电路测试工作，无需等待电路规格书的形成，缩短了电路测试的等待时间，提高电路测试效率。
申请人：北京燧原智能科技有限公司
地址：100191 北京市海淀区知春路23号14层1401、1403、1405、1407室
国籍：CN
代理机构：北京品源专利代理有限公司
代理人：孟金喆
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